当社の企業付設研究所は製品の信頼性試験を定期的に実施し、より安定的な品質の製品を顧客へ提供しております 。
当社で行われている信頼性試験は下記の通りです 。
試料 表面 と 粒子 分析 検査 (SEM/EDS)
走査電子顕微鏡 (SEM)
試料の表面に電子線を絞った電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子などを検出することで対象を観察する。試料の表面を画像形象化させる装備となり、試料の表面の形状と粒子のサイズ測定が可能になる。
- 100倍 〜 最大100,000倍まで測定可能
- サンプルの最大幅60mm、高さ45mmまで測定可能
エネルギー分散型の分光器 (EDS)
試料製品の元素と定量分析ができる装備であり、元素番号5番B(Boron)から98番Cf(Californium)まで 分析可能
EDS測定画像
EDS測定画像
XRF (X-ray Fluorescence)測定
- 多層薄膜のメッキ厚測定(最大5層)
- RoHS、WEEE、ELV対応のための有害物質(Cr、Br、Cd、Hg、Pb、Cl、Sb、Sn、Sなど )の含有量分析
- 測定範囲 :Ti(22)〜U(92)
- 試料の形態 :solid / liquid / powder
※ 測定原理
X-ray管から出てきた1 次のX-ray が試料にぶつかると、X-rayが原子に吸収されたり、物質を通過して散乱されたりする 。この過程で電子が内側から突き出してスペースを作り出し、不安定な状態になれる 。この時、原子は安定な状態になるように外殻にいた電子が内殻に転移され、この過程で各元素毎に固有なエネルギーのX-ray線を放出する。この X-rayを蛍光X-rayと呼ぶ。この蛍光 X-rayのエネルギーと強さを測定して成分と含有量、厚さを測定する 。
電磁波遮蔽率の測定
ASTM D4935
Advantest
ESQ-517-28(MIL-DTL-83528C相当)
その他の測定
抵抗圧縮試験(ESQ-517-27)
表面電気抵抗(ESQ-517-04)
体積電気抵抗(MIL-DTL-83528C,ASTM D257)
圧縮復元率(ESQ-517-26)
磁場シールド性能(ASTM A698-92)
熱伝導率(ESQ-612-55)
はんだ濡れ性(ESQ-612-47)
老化試験(ESQ-517-20)